A63.7081 Schottky Field Emission Gun ელექტრონული მიკროსკოპი - სკანირება Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x
პროდუქტის აღწერა
| A63.7081 Schottky Field Emission Gun სკანირებადი ელექტრონული მიკროსკოპი Pro FEG SEM | ||
| რეზოლუცია | 1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5 ნმ @ 30 კვ (BSE) | |
| გადიდება | 15x ~ 800000x | |
| ელექტრონული იარაღი | შოტკის ემისიის ელექტრონული იარაღი | |
| ელექტრონული სხივი მიმდინარე | 10pA ~ 0.3μA | |
| ვოტაჯის დაჩქარება | 0 ~ 30 კვ | |
| ვაკუუმის სისტემა | 2 იონის ტუმბო, ტურბო მოლეკულური ტუმბო, მექანიკური ტუმბო | |
| დეტექტორი | SE: მაღალი ვაკუუმის საშუალო ელექტრონული დეტექტორი (დეტექტორის დაცვით) | |
| BSE: ნახევარგამტარული ოთხი სეგმენტირების უკან გაფანტვის დეტექტორი | ||
| CCD | ||
| ნიმუშის ეტაპი | ხუთი ცულის ევცენტრული მოტორიზებული სცენა | |
| სამგზავრო დიაპაზონი | X | 0 ~ 150 მმ |
| Y | 0 ~ 150 მმ | |
| Z | 0 ~ 60 მმ | |
| R | 360º | |
| T | -5º ~ 75º | |
| ნიმუშის მაქსიმალური დიამეტრი | 320 მმ | |
| მოდიფიკაცია | EBL; STM; AFM; გათბობის ეტაპი; Cryo ეტაპი; დაძაბული ეტაპი; მიკრო-ნანო მანიპულატორი; SEM + საფარი მანქანა; SEM + ლაზერი და ა.შ. | |
| აქსესუარები | რენტგენის დეტექტორი (EDS), EBSD, CL, WDS, საფარის აპარატი და ა.შ. | |
უპირატესობა და შემთხვევები
| ელექტრონული მიკროსკოპია (სემი) განკუთვნილია მეტალების, კერამიკის, ნახევარგამტარების, მინერალების, ბიოლოგიის, პოლიმერების, კომპოზიტებისა და ნანო მასშტაბის ერთგანზომილებიანი, ორგანზომილებიანი და სამგანზომილებიანი მასალების ზედაპირული ტოპოგრაფიის დასადგენად (მეორადი ელექტრონული სურათი, ეს შეიძლება გამოყენებულ იქნას მიკრორეგიონის წერტილის, ხაზის და ზედაპირული კომპონენტების გასაანალიზებლად. იგი ფართოდ გამოიყენება ნავთობპროდუქტებში, გეოლოგიაში, მინერალურ ველში, ელექტრონიკაში, ნახევარგამტარული ველი, მედიცინა, ბიოლოგიის სფერო, ქიმიური მრეწველობა, პოლიმერული მასალის ველი საზოგადოებრივი უსაფრთხოების, სოფლის მეურნეობის, სატყეო და სხვა დარგების სისხლის სამართლის საქმე. |
კომპანიის ინფორმაცია
დაწერეთ თქვენი წერილი აქ და გამოგვიგზავნეთ
